DOI: https://doi.org/10.24144/2415-8038.2018.43.63-73

Мас-спектрометричні дослідження складу Cірки і Cелену у газовій фазі електронним ударом

Павло Павлович Маркуш

Анотація


З використанням метода мас-спектрометрії проведено дослідження складу сірки та селену у газовій фазі. Встановлено, що в процесі випаровування сірки і селену утворюються як атоми, так і молекули. Виміряно енергетичні залежності ефективного перерізу утворення позитивних іонів атомів та молекул сірки і селену та визначено енергії їх появи. Виявлено, що енергетичні залежності ефективного перерізу утворення іонів мають немонотонну поведінку, яка зумовлена включенням нових каналів реакції з ростом енергії іонізуючих електронів.


Ключові слова


Мас-спектр; Електрон; Атом; Молекула; Іон; Іонізація

Повний текст:

PDF

Посилання


Meyer B. Elemental sulfur / B. Meyer // Chem. Rev. – 1976. – V. 76, №. 3. – P. 367–388.

Toe B.K. A Perspective on the Science of Clusters / B.K. Teo // J. Clust. Sci. – 2014. – V. 25. – P. 5–28.

Kawazoe Y. Clusters and Nanomaterials / Y. Kawazoe, T. Kondow, K. Ohno. – Spring-Verlag, 2002. – 345 p.

Margreiter D. Electron Impact Ionization Cross Sections of Molecules / D. Margreiter, H. Deutsch, M. Schmidt, T.D. Märk. – Int. J. Mass Spectr. Ion. Proc. – 1990. – V. 100, № 1. – P. 157–176.

Gross J. Mass Spectrometry: A textbook 2nd edition / J. Gross. – Springer Verlag Berlin Heidelberg, 2011. – 753 p.

Завилопуло А.Н. Ионизация молекулы глицерина электронным ударом /А.Н. Завилопуло, О.Б. Шпеник, П.П. Маркуш, Е.Э. Контрош // Письма в ЖТФ – 2014. – T. 40, Bып. 19. – C. 1–10.

Chernyshova I. Electron impact ionization of the gas-phase sorbitol /I. Chernyshova, P. Markush, A. Zavilopulo, O. Shpenik // Eur. Phys. J. D – 2015. – V. 69. – P. 1–7.

Berkovitz J. Equilibrium Composition of Sulfur Vapor / J. Berkovitz, J.R. Marquart // J. Chem. Phys. – 1963. – V. 39. – P. 275–283.

Dudek G. The Mass Spectrum of Sulfur / G. Dudek, E.P. Dudek // J. Chem. Educ. – 1969. – V. 66, № 4. – P. 304–306.

Bradt P. Mass spectrum of sulfur vapor / P. Bradt, F.L. Mohler, V.H. Dibeler // J. Res. Natl. Bur. Stand. – 1956. – V. 57, № 4. – Р. 223–225.

NIST Standard Reference Database. (http://www.webbook.nist.gov).

Hertel I.V. An atomic beam oven with very low associated magnetic field /I.V. Hertel, K.J. Ross // Journal of Physics E: Scientific Instruments –1968. – V. 1. – P. 1245–1246.

Rosinger W. Electron Impact Induced Excitation Processes Involving the Sulfur Clusters S2 to S8 / W. Rosinger, M. Grade, W. Hirschwald // Phys. Chem. – 1983.– V. 87. – P. 536–542.

Berkovitz J. Equilibrium Composition of Sulfur Vapor / J. Berkovitz, J.R. Marquart // J. Chem. Phys. – 1963. – V. 39. – P. 275–283.

Berkowitz J. Photoionization of High Temperature Vapors. II. Sulfur Molecular Species / J. Berkowitz, C. Lifshitz // J. Chem. Phys. – 1968. – V. 48. – P. 4346–4350.

Demesh Sh. Appearance Energies of Sk+ Ions from Sn Molecules Studied Ab Initio / Sh.Sh. Demesh, E.Yu. Remeta // Abstract of contributed papers – XLIC 3rd General meeting – Debrecen, Hungary. – 2015. − P. 33.

Rau H. Vapour composition and critical constants of selenium / H. Rau //J Chem. Thermodyn. – 1974. – V. 6. – P. 525–535.

Berkowitz J. Equilibrium Composition of Selenium Vapor; the Thermodynamics of the Vaporization of HgSe, CdSe, and SrSe / J. Berkowitz, W.A. Chupka // J. Chem. Phys. – 1966. – V. 45. – P. 4289–4294.

Fujisaki H. Mass spectrometric study of subliming selenium / H. Fujisaki J.B. Westmore, A.W. Tickner // Can. J. Chem. – 1966. – V. 44. – P. 3063–3071.

Kooser K. Size selective spectroscopy of Se microclusters / K. Kooser, D.T. Ha, E. Itälä, J. Laksman, S. Urpelainen, E. Kukk // The Journal of Chemical Physics – 2012. – V. 137. – P. 044304–9.

Yamdagni R. Mass Spectrometric and Torsion Effusion Studies of the Evaporation of Liquid Selenium / R. Yamdagni, R.F. Porter // J. Electrochem. Soc. – 1968. –V. 115. – P. 601–604.


Посилання

  • Поки немає зовнішніх посилань.


Creative Commons License
Ця робота ліцензована Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.

ISSN: 2415-8038 (Print).